电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法

Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method

GB/T 36655-2018现行国家标准

标准状态

发布于：2018-09-17

实施于：2019-01-01

废止

标准号GB/T 36655-2018

标准状态现行

发布日期2018-09-17

实施日期2019-01-01

中国标准分类号L90 电子技术专用材料

国际标准分类号31.030 电子技术专用材料

主管部门国家标准委

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口国家标准委

起草单位国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、汉高华威电子有限公司、江苏联瑞新材料股份有限公司

起草人封丽娟、李冰、曹家凯、吕福发、陈进、夏永生、阮建军、王松宪

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5％以下半定量分析，0.5%～5%定量分析。