硅单晶电阻率标准样片校准规范
Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
标准状态
发布于：2019-09-27
实施于：2020-03-27
废止
基本信息
JJF 1760-2019
现行
2019-09-27
2020-03-27
国家市场监督管理总局
全国无线电计量技术委员会
JJG 48-2004
中国计量科学研究院
高英、李兰兰
标准简介
本规范适用于电阻率在0.0030 Ω·cm ~ 10000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。
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