识别卡 测试方法 第3部分带触点的集成电路卡及其相关接口设备
Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices
标准状态
发布于：2006-03-14
实施于：2006-07-01
废止
基本信息
GB/T 17554.3-2006
现行
2006-03-14
2006-07-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
中国电子技术标准化研究所
冯敬、蔡怀忠、刘华茂、耿力、金倩
标准简介
本部分定义了带触点的集成电路卡及其相关接口设备特性的测试方法，该方法与GB/T 16649给出的定义相适应。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准，这些基础标准可以是GB/T 14916，也可以是一个或多个定义了应用在识别卡应用的信息存储技术的补充标准。 本部分只定义了带触点的集成电路卡及其相关接口设备特性的测试方法；GB/T 17554.1定义了为一种或多种卡技术所共用的测试方法；其他部分则定义了各个专项技术的测试方法。 本部分中描述的若干测试方法可单独进行。规定的卡不要求顺序地通过所有
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