金属氧化物半导体气敏元件测试方法

Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

GB/T 15653-1995现行国家标准

标准状态

发布于：1995-07-24

实施于：1996-04-01

废止

标准号GB/T 15653-1995

标准状态现行

发布日期1995-07-24

实施日期1996-04-01

中国标准分类号L15 敏感元器件及传感器

国际标准分类号31.020 电子元器件综合

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家技术监督局

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位电子工业部标准化研究所

本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件（以下简称元件）性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试，其他气敏元件亦可参照使用。