微米级长度的扫描电镜测量方法通则
General rules for measurement of length in micron scale by SEM
标准状态
发布于：2008-09-18
实施于：2009-05-01
废止
基本信息
GB/T 16594-2008
现行
2008-09-18
2009-05-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
GB/T 16594-1996
上海理工大学、同济大学、中国船舶重工集团公司第725研究所、上海元宝能源技术有限公司、上海市计量测试技术研究院
张训彪、邓保庆、刘悦、高文华、卢德生、丁臻敏
标准简介
本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的通用原则。适用于测量(0.5-10)μm 的长度。
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