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痕量水分仪校准规范

Calibration Specification of Trace moisture meter

JJF(京)156-2024现行计量规范

标准状态

发布于:2024-05-16
实施于:2024-07-01
废止

基本信息

JJF(京)156-2024
现行
2024-05-16
2024-07-01
北京市市场监督管理局
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
巩娟(中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所)、何萌(中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所)、谢凯丽(中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所)

标准简介

痕量水分仪一般是由光腔、光源及其变换电路组成的,能直接显示气体痕量水分的仪器,痕量水分仪在湿度变化较快的环境中工作时,一般不能立刻反映被测湿度,需要一定时间后才能达到平衡状态。 痕量水分仪应带有包含湿度测量范围、输入载气要求、工作电源等说明的技术资料,并且应首先经过静态校准。 本规范适用于光腔衰荡光谱法(CRDS)和可调谐半导体激光吸收光谱法(TDLAS)原理以及其他光学原理的痕量水分仪的露点温度、体积比参数的校准。

内容预览

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