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硅单晶

Monocrystalline silicon

GB/T 12962-2015现行国家标准

标准状态

发布于:2015-12-10
实施于:2017-01-01
废止

基本信息

GB/T 12962-2015
现行
2015-12-10
2017-01-01
H82 元素半导体材料
29.045 半导体材料
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
GB/T 12962-2005
有研新材料股份有限公司、浙江中晶科技股份有限公司、杭州海纳半导体有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所、天津市环欧半导体材料技术有限公司、浙江省硅材料质量检验中心、万向硅峰电子股份有限公司、上海合晶硅材料有限公司、广东泰卓光电科技股份有限公司
孙燕、张果虎、楼春兰、王飞尧、徐新华、杨素心、张雪囡、黄笑容、朱兴萍、何良恩、由佰玲、李丽妍

标准简介

本标准规定了硅单晶的牌号及分类、要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容等。 本标准适用于直拉法、悬浮区熔法(包括中子变掺杂和气相掺杂)制备的直径不大于200mm的硅单晶。产品主要用于制作半导体元器件。

内容预览

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