颗粒技术微纳米异质结构分析透射电子显微镜法

Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy

T/CSP 13-2024现行团体标准

标准状态

发布于：2024-11-18

实施于：2024-11-25

废止

标准号T/CSP 13-2024

标准状态现行

发布日期2024-11-18

实施日期2024-11-25

国际标准分类号17.020 计量学和测量综合

发布部门中国颗粒学会

团体名称中国颗粒学会

起草单位国家纳米科学中心、国标（北京）检验认证有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、中国颗粒学会、北京粉体技术协会。

起草人常怀秋、李婷、白露、杜志伟、齐笑迎、贾荣光、朱晓阳、韩小磊、车聪、高原、郎爽、毛璐、周素红。

本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。