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硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法

YB/T 4590-2017现行行业标准

标准状态

发布于:2017-04-12
实施于:2017-10-01
废止

基本信息

YB/T 4590-2017
现行
2017-04-12
2017-10-01
Q51 石墨材料
29.050 导体材料
工业和信息化部
全国钢标准化技术委员会
亚洲硅业(青海)有限公司、国家石墨产品质量监督检验中心、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司、冶金工业信息标准研究院。
王体虎、魏东亮、蔡延国、宗冰、季静佳、陈英、周智勇、李建新、张云晖、张园园、邱艳梅、郑景须。

标准简介

本标准规定了电感耦合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定,测定范围见表1。

内容预览

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