集成电路 CMOS图像传感器测试方法

Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

GB/T 43063-2023现行国家标准

标准状态

发布于：2023-09-07

实施于：2024-01-01

废止

标准号GB/T 43063-2023

标准状态现行

发布日期2023-09-07

实施日期2024-01-01

中国标准分类号L54 半导体光敏器件

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

提出单位工业和信息化部

起草单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、天津大学、中国电子技术标准化研究院、重庆光电技术研究所、长春精测光电技术有限公司、深圳佑驾创新科技有限公司

起草人李俊霖、张涛、赵宇、聂真威、马洪涛、卢岩、唐延甫、聂凯明、马悦、刘国清、兰太吉、杨永强、韩冰、金辉、徐江涛、刘昌举、李金、高志远、王琪、刘秀娟

本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、而阵和时间延迟积分（TDI）CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。