薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits

GB/T 14620-2013现行国家标准

标准状态

发布于：2013-11-12

实施于：2014-04-15

废止

标准号GB/T 14620-2013

标准状态现行

发布日期2013-11-12

实施日期2014-04-15

中国标准分类号L90 电子技术专用材料

国际标准分类号31.030 电子技术专用材料

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

代替标准GB/T 14620-1993

起草单位中国电子技术标准化研究院

起草人曹易、李晓英

本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”）的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。