电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forvolume resistivity
标准状态
发布于:1985-11-27
实施于:1986-12-01
废止
基本信息
GB/T 5594.5-1985
现行
1985-11-27
1986-12-01
L32
工业和信息化部(电子)
国家标准局
工业和信息化部(电子)
南京电子管厂
标准简介
本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。