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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forvolume resistivity

GB/T 5594.5-1985现行国家标准

标准状态

发布于:1985-11-27
实施于:1986-12-01
废止

基本信息

GB/T 5594.5-1985
现行
1985-11-27
1986-12-01
L32
工业和信息化部(电子)
国家标准局
工业和信息化部(电子)
南京电子管厂

标准简介

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。

内容预览

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