表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
标准状态
发布于：2010-09-26
实施于：2011-08-01
废止
基本信息
GB/T 25185-2010
现行
2010-09-26
2011-08-01
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
北京师范大学分析测试中心
吴正龙
标准简介
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
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