硅中氯离子含量的测定离子色谱法

Test method for chloride content of silicon—Ion chromatography method

GB/T 37385-2019现行国家标准

标准状态

发布于：2019-03-25

实施于：2020-02-01

废止

标准号GB/T 37385-2019

标准状态现行

发布日期2019-03-25

实施日期2020-02-01

中国标准分类号H17 半金属及半导体材料分析方法

国际标准分类号77.040 金属材料试验

主管部门国家标准委

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口国家标准委

起草单位江苏中能硅业科技发展有限公司、亚洲硅业（青海）有限公司、苏州汉谱埃文材料科技有限公司、新特能源股份有限公司、新疆协鑫新能源材料科技有限公司、有色金属技术经济研究院

起草人王桃霞、刘逸枫、耿全荣、梁博松、贾芬、张佳伟、邱艳梅、宗冰、刘晓霞、刘源君、鲁文锋、胡议允、陈飞、刘国霞、李素青

本标准规定了硅中氯离子含量的离子色谱测定方法。本标准适用于测定棒状、块状、颗粒状和片状硅中x离子含量的测定。测定范围为1.0μg/g至硅中氯离子的最大固溶度。