电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value

GB/T 5594.4-1985已废止国家标准

标准状态

发布于：1985-11-27

实施于：1986-12-01

已废止

标准号GB/T 5594.4-1985

标准状态已废止

发布日期1985-11-27

实施日期1986-12-01

中国标准分类号L32

主管部门工业和信息化部（电子）

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位天津大学

本标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz，温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。