半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
标准状态
发布于：1992-12-17
实施于：1993-08-01
废止
基本信息
标准简介
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理。
内容预览
General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理。