光伏组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分：晶体硅组件 分层
Photovoltaic modules—Test methods for the detection of potential-induced degradation—Part 1-1: Crystalline silicon—Delamination
标准状态
发布于：2026-01-04
实施于：2026-01-21
废止
基本信息
GB/Z 117.101-2026
现行
2026-01-04
2026-01-21
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会