光学功能薄膜 黄变的测量方法
标准状态
发布于:2019-12-24
实施于:2020-07-01
废止
基本信息
HG/T 5659-2019
现行
2019-12-24
2020-07-01
工业和信息化部
全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会
中国兵器工业集团第五三研究所、合肥乐凯科技产业有限公司、宁波长阳科技股份有限公司
张瑞蓉、邱桂花、王益珂 等
标准简介
本标准规定了光学功能薄膜在模拟的太阳光或在紫外光照射下的黄变测量方法。
本标准规定了光学功能薄膜在模拟的太阳光或在紫外光照射下的黄变测量方法。