薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

GB/T 20724-2006已废止国家标准

标准状态

发布于：2006-12-25

实施于：2007-08-01

已废止

标准号GB/T 20724-2006

标准状态已废止

发布日期2006-12-25

实施日期2007-08-01

中国标准分类号N53 电化学、热化学、光学式分析仪器

国际标准分类号71.040.99 有关分析化学的其他标准

主管部门国家标准委

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口国家标准委

起草单位北京科技大学

起草人柳得橹

本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10m～×10m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。