石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6: Measurement of drive level dependence(DLD)
标准状态
发布于：2023-09-07
实施于：2024-01-01
废止
基本信息
GB/T 22319.6-2023
现行
2023-09-07
2024-01-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
工业和信息化部
中国家用电器研究院、青岛海尔智能技术研发有限公司、安徽众家云物联网科技有限公司、北京小米电子产品有限公司、美的集团股份有限公司、广东万和新电气股份有限公司、海信家电集团股份有限公司、大金（中国）投资有限公司、绍兴西爱西尔数控科技有限公司
赵鹏、冯承文、陈丽芬、陈灿峰、陈挺、孙颖楷、刘旭敏、刘晨皓、叶迅凯、王麦原
标准简介
本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性（DLD）的测量。本文件规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。方法A以IEC60444-5的π型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC 60444-8的π型网络或反射法为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
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