扫描电子显微镜校准规范
Calibration Specification for Scanning Electronic Microscopes (SEM)
标准状态
发布于:2021-07-28
实施于:2022-01-28
废止
基本信息
JJF 1916-2021
现行
2021-07-28
2022-01-28
国家市场监督管理总局
全国几何量长度计量技术委员会
JJG 550-1988
中国计量科学研究院
李伟、高思田、施玉书
标准简介
本规范适用于扫描电子显微镜的校准。
Calibration Specification for Scanning Electronic Microscopes (SEM)
本规范适用于扫描电子显微镜的校准。