表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
标准状态
发布于：2010-09-26
实施于：2011-08-01
废止
基本信息
GB/T 25186-2010
现行
2010-09-26
2011-08-01
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
信息产业部专用材料质量监督检验中心
马农农、何友琴、何秀坤
标准简介
本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。 本标准适用于基体化学成分单一的样品，其中注入物质的峰值原子浓度不超过1％。
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