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半导体管特性图示仪校准规范

Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

JJF 1236-2010现行计量规范

标准状态

发布于:2010-01-05
实施于:2010-04-05
废止

基本信息

JJF 1236-2010
现行
2010-01-05
2010-04-05
国家质量监督检验检疫总局
全国无线电计量技术委员会
GB/T13973-1992,GB/T13974-1992
中国电子技术标准化研究所
陈连启、于利红、刘冲

标准简介

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。

内容预览

JJF 1236-2010 标准预览JJF 1236-2010 标准预览JJF 1236-2010 标准预览JJF 1236-2010 标准预览JJF 1236-2010 标准预览JJF 1236-2010 标准预览

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