X射线荧光光谱法 测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
标准状态
发布于：2009-12-04
实施于：2010-06-01
废止
基本信息
YS/T 702-2009
现行
2009-12-04
2010-06-01
工业和信息化部
全国有色金属标准化技术委员会
中国铝业有限公司广西分公司、中国铝业有限公司郑州研究院等
秦文忠、邓文军 等
标准简介
本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。
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