纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
标准状态
发布于：2024-05-28
实施于：2024-12-01
废止
基本信息
GB/T 44075-2024
现行
2024-05-28
2024-12-01
中国科学院
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
中国科学院
中国科学院
苏州纳微科技有限公司、苏州大学、中国检验检疫科学研究院、苏州市计量测试院、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
郭清华、朱建荣、方丹、姜江、王震、姚建林、袁亚仙、席广成、卢荻
标准简介
本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。 本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。
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