在片微波测试系统散射参数校准规范
标准状态
发布于：2025-03-20
实施于：2025-03-20
废止
基本信息
JJF（电子）00103-2023
现行
2025-03-20
2025-03-20
标准简介
本校准规范适用于1GHz～110GHz输入输出型式为GSG型共面波导在片微波测试系统散射参数的校准，典型探针间距为150um、100um、50um。其它型式（如GS、GSGSG等）、不同间距的片上微波测试系统散射参数校准可参照此规范执行。在片微波测试系统主要用于裸芯片在片S参数测试，主要包括网络分析仪、探针和微波电缆等。
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