电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure

GB/T 5594.8-1985已废止国家标准

标准状态

发布于：1985-11-27

实施于：1986-12-01

已废止

标准号GB/T 5594.8-1985

标准状态已废止

发布日期1985-11-27

实施日期1986-12-01

中国标准分类号L32

主管部门工业和信息化部（电子）

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位上海科技大学

本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。