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工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 x射线衍射k值法

YS/T 1160-2016现行行业标准

标准状态

发布于：2016-07-11

实施于：2017-01-01

废止

基本信息

标准号YS/T 1160-2016

标准状态现行

发布日期2016-07-11

实施日期2017-01-01

中国标准分类号H12 轻金属及其合金分析方法

国际标准分类号29.045 半导体材料

发布部门工业和信息化部

标准简介

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。

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YS/T 1160-2016 标准预览

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