电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Z-AMD低温-低气压-湿热连续综合试验
Environmental testing for electric and electronic products-Part 2:Test Methods Test Z/AMD:Combined sequential cold,low air pressure and damp heat test
标准状态
发布于：2005-08-26
实施于：2006-04-01
已废止
基本信息
GB/T 2423.27-2005
已废止
2005-08-26
2006-04-01
中国电器工业协会
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国电器工业协会
GB/T 2423.27-1981
信息产业部电子第五研究所
标准简介
本部分提供了由低温、低气压和湿热组成的标准环境试验程序。首先低温和低气压结合在一起，其次升温，然后与湿热条件结合在一起。本试验应用了试验A和试验M。虽然未完全按照试验D引入湿度，但用“Z/AMD”来表示本试验最恰当和最具提示性。 本试验用于飞行器所使用的元器件和设备，特别是在非加热和非增压部位的元器件和设备。
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