纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method

GB/T 23413-2009现行国家标准

标准状态

发布于：2009-04-01

实施于：2009-12-01

废止

标准号GB/T 23413-2009

标准状态现行

发布日期2009-04-01

实施日期2009-12-01

中国标准分类号N78 Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器

国际标准分类号19.100 无损检测

主管部门国家标准委

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口国家标准委

起草单位钢铁研究总院、首钢技术研究院

起草人方建锋、郑毅、李琪

本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。