电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
标准状态
发布于：2018-03-15
实施于：2018-10-01
废止
基本信息
GB/T 22586-2018
现行
2018-03-15
2018-10-01
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
GB/T 22586-2008
电子科技大学、南京大学、清华大学、中国科学院物理研究所
曾成、罗正祥、吉争鸣、孙亮、补世荣、魏斌
标准简介
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。 本标准适用于表面电阻的测试范围如下： ——频率：8GHz＜f＜30GHz ——测试分辨率：0.01mΩ(f=10GHz)。 测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用Rs∝f2的关系折合到10GHz的值。
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