宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
标准状态
发布于：2023-09-07
实施于：2024-01-01
废止
基本信息
GB/T 43226-2023
现行
2023-09-07
2024-01-01
国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
赵元富、陈雷、郑宏超、李哲、陈淼、王汉宁、王亮、岳素格、林建京、李永峰
标准简介
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。 本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
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