数显测高仪检定规程
Verification Regulation of Digital Display Height Mearsuring Instrument
标准状态
发布于:1998-12-11
实施于:1998-08-01
废止
基本信息
JJG 929-1998
现行
1998-12-11
1998-08-01
国家市场监督管理总局
四川省技术监督局
中国科学院光电技术研究所
范天泉(中国科学院光电技术研究所)、陆德基(中国科学院光电技术研究所)、吴学巧(中国科学院光电技术研究所)、耿丽红(中国科学院光电技术研究所)
标准简介
数显测高仪是以光栅、容栅或磁栅作为测量元件的立式单坐标数字化几何量计量仪器,用来测量平行平面之间距离、孔轴直径、中心距及形位误差等。 本规程适用于新制造、实用中和修理后的分辨力0.1μm至1μm、量程至1.5m的数显测高仪的检定。