电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness

GB/T 5594.1-1985现行国家标准

标准状态

发布于：1985-11-27

实施于：1986-12-01

废止

标准号GB/T 5594.1-1985

标准状态现行

发布日期1985-11-27

实施日期1986-12-01

中国标准分类号L32

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家标准局

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位电子部12所

本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。