GTL-D型膜孔径测定仪
标准状态
发布于:1995-02-20
实施于:1995-07-01
废止
基本信息
标准简介
本标准规定了GTL-D型膜孔径测定仪主要参数、技术要求、试验方法、验收规定、标志、包笑运输等内容。 本标准适用于测量平均孔径为0.02μm以上的不同材质高分子多孔膜的最大孔径,平均孔径、孔径分布。
本标准规定了GTL-D型膜孔径测定仪主要参数、技术要求、试验方法、验收规定、标志、包笑运输等内容。 本标准适用于测量平均孔径为0.02μm以上的不同材质高分子多孔膜的最大孔径,平均孔径、孔径分布。