电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法化学稳定性测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forchemical durability

GB/T 5594.6-1985已废止国家标准

标准状态

发布于：1985-11-27

实施于：1986-12-01

已废止

标准号GB/T 5594.6-1985

标准状态已废止

发布日期1985-11-27

实施日期1986-12-01

中国标准分类号L32

主管部门工业和信息化部（电子）

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位上海无线电一厂

本标准适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。标准不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性。