微束分析 电子背散射衍射分析方法通则
Microbeam analysis - General guide for electron backscatter diffraction analysis
标准状态
发布于：2013-07-19
实施于：2014-03-01
废止
基本信息
GB/T 19501-2013
现行
2013-07-19
2014-03-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
GB/T 19501-2004
宝钢集团中央研究院
姚雷、田青超、陈家光、郑芳、顾佳卿
标准简介
本标准规定了电子背散射衍射分析方法。 本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。
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