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薄化液晶显示盒 第3部分 检测方法

SJ/T 11832.3-2022现行行业标准

标准状态

发布于:2022-10-20
实施于:2023-01-01
废止

基本信息

SJ/T 11832.3-2022
现行
2022-10-20
2023-01-01
L53 半导体发光器件
31.120 电子显示器件
工业和信息化部
全国平板显示器件标准化技术委员会
全国平板显示器件标准化技术委员会
惠晶显示科技(苏州)有限公司、中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司、安徽诚志显示玻璃有限公司、武汉华星光电技术有限公司、浙江水晶光电科技股份有限公司、武汉纺织大学、张家港清研再制造产业研究院有限公司、凯盛科技股份有限公司、深圳国显科技有限公司、蚌埠国显科技有限公司
彭寿、阮军、唐朝晖、张启华、杨建强、钱学君、董连党、吕志勇、马莉莉、张玮、李岳阳、董洪波、刘风雷、土克旭、余辉、吴瑜、董金聪、胡建峰、张晓红、罗丹、李树立、陈东东

标准简介

本文件描述了薄化液晶显示盒(以下简称薄化液品盒)的厚度、表观缺陷、边缘缺陷、盒内缺陷的检测方法。 本文件适用于薄化液晶显示盒的检验。

内容预览

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