钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法

The DC electric resistance test method for the critical temperature Tc of a YBa2Cu3O7-δ superconducting thin film

GB/T 17711-1999现行国家标准

标准状态

发布于：1999-03-13

实施于：1999-10-01

废止

标准号GB/T 17711-1999

标准状态现行

发布日期1999-03-13

实施日期1999-10-01

中国标准分类号L90 电子技术专用材料

国际标准分类号31.030 电子技术专用材料

主管部门中国科学院

发布部门国家质量技术监督局

技术归口中国科学院

起草单位中国科学院物理研究所超导国家重点实验室

本标准规定了钇钡铜氧（123相）超导薄膜临界温度T、超导转变宽度△T、零电阻温度T的直流电阻试验方法。本标准适用于膜厚为（100～500）nm的钇钡铜氧（123相）超导薄膜的临界温度T、超导转变宽度△T，零电阻温度Tco的测定。本标准不适用于多相和半导体型的钇钡铜氧超导薄膜上述参数的测定。