微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
Test methods of precious metals pastes used for microelectronics Determination of sheet resistance
标准状态
发布于:2008-03-31
实施于:2008-09-01
已废止
基本信息
GB/T 17473.3-2008
已废止
2008-03-31
2008-09-01
中国有色金属工业协会
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国有色金属工业协会
GB/T 17473.3-1998
贵研铂业股份有限公司
金勿毁、刘继松、李文琳
标准简介
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测试方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。