电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test methodfor mean coefficient of linear expansion

GB/T 5594.3-1985已废止国家标准

标准状态

发布于：1985-11-27

实施于：1986-12-01

已废止

标准号GB/T 5594.3-1985

标准状态已废止

发布日期1985-11-27

实施日期1986-12-01

中国标准分类号L32

主管部门工业和信息化部（电子）

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位电子部12所

本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。