微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
标准状态
发布于：2017-07-12
实施于：2018-06-01
废止
基本信息
GB/T 34002-2017
现行
2017-07-12
2018-06-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
北京科技大学
柳得橹、郜欣、权茂华
标准简介
本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。 本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺，但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜（CD-TEM）和扫描透射电镜(STEM)。
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