微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
标准状态
发布于：2023-09-07
实施于：2024-04-01
废止
基本信息
GB/T 43087-2023
现行
2023-09-07
2024-04-01
国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
国家标准化管理委员会
北京科技大学
权茂华、柳得橹
标准简介
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。 本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。 本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界而位置。
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