贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
标准状态
发布于：2005-04-11
实施于：2005-07-01
废止
基本信息
EJ/T 1184-2005
现行
2005-04-11
2005-07-01
国防科学技术工业委员会
核工业标准化研究所
国营八一四厂
彭元明、蒋敬平
标准简介
本标准规定了分光光度法测定品贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定，其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。当取样量为0.25g四氟化铀时，硅的测定范围为：（10～120）μg/g。在测量范围内，40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定。
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