宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

Test method for total ionizing dose effect of static random-access memory in space application

T/CNS 82-2022现行团体标准

标准状态

发布于：2022-12-16

实施于：2023-04-01

废止

标准号T/CNS 82-2022

标准状态现行

发布日期2022-12-16

实施日期2023-04-01

中国标准分类号F70 辐射防护与监测综合

国际标准分类号27.120.01 核能综合

发布部门中国核学会

团体名称中国核学会

起草单位中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团有限公司第五研究院宇航物资保障事业部

起草人郑齐文、崔江维、余学峰、郭旗、李豫东、王信、张丹、陆妩、何承发、崔帅、李鹏伟

本文件规定了宇航用静态随机存储器（Static Random-Access Memory，SRAM）总剂量（total ionizing dose，TID）效应试验方法。本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。