微束分析 电子探针显微分析 波谱法元素面分析
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Methods for elemental-mapping analysis using wavelengthdispersive spectroscopy
标准状态
发布于：2015-10-09
实施于：2016-09-01
废止
基本信息
GB/T 32055-2015
现行
2015-10-09
2016-09-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所
陈振宇、李香庭、曾毅、周剑雄
标准简介
本标准规定了使用电子探针波谱法进行元素面分析的方法。本标准规范了移动电子束对试样扫描的面分析（电子束面分析）和移动试样台的面分析（大面积面分析）两种模式的选择，给出了五种数据处理的方式原始X射线强度法、K值法、校正曲线法、对比法和基体校正法。
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