电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法
Detection method of degree of sphericity of spherical silica for electronic packaging—Particle dynamic photoelectric projection method
标准状态
发布于：2019-05-10
实施于：2019-12-01
废止
基本信息
GB/T 37406-2019
现行
2019-05-10
2019-12-01
国家标准委
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子（连云港）有限公司、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
曹家凯、吕福发、姜兵、封丽娟、夏永生、戴春明、阮建军、王松宪、李冰、陈进、马涛
标准简介
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉颗粒球形度、平均球形度及球形度分布的颗粒动态光电投影测试方法。 本标准适用于4μm~300μm的电子封装用球形二氧化硅微粉球形颗粒。
内容预览
