半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
标准状态
发布于：1992-12-17
实施于：1993-08-01
已废止
基本信息
标准简介
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下简称器件或模拟开关）电参数测试的基本原理。
内容预览
General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下简称器件或模拟开关）电参数测试的基本原理。