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俄歇电子能谱术深度剖析标准导则

SJ/T 10457-1993现行行业标准

标准状态

发布于:1993-12-17
实施于:1994-06-01
废止

基本信息

SJ/T 10457-1993
现行
1993-12-17
1994-06-01
A42 物理学与力学
31.020 电子元器件综合
电子工业部

标准简介

本标准导则适用于采用磨角与截面法、球抗法、离子测射法、非破坏性深度剖析法进行俄歇电子能谱术尝试剖析。 本标准导则可能涉及有害的物品、操作及设备。但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前,应该制定适当的安全与保健措施,并确定本导则的范围。

内容预览

SJ/T 10457-1993 标准预览SJ/T 10457-1993 标准预览SJ/T 10457-1993 标准预览SJ/T 10457-1993 标准预览SJ/T 10457-1993 标准预览

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