硅片字母数字标志规范
Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
标准状态
发布于：2017-10-14
实施于：2018-07-01
废止
基本信息
GB/T 34479-2017
现行
2017-10-14
2018-07-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
有研半导体材料有限公司、浙江省硅材料质量检验中心
张静、孙燕、边永智、楼春兰
标准简介
本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范，包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。 本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。 注：字母数字标志及关联信息存人数据库，可被简单的自动光学字符读数（OCR）仪或人工进行独立、快速识别，确保晶片制造商对晶片标记的一致性。
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